CG20260930007
2026-10-13 00:00
1.要求供应商具有独立承担民事责任的能力，提供营业执照或事业单位法人证书；
2.具有履行合同所必需的设备和专业技术能力；
3.有依法缴纳税收和社会保障资金的良好记录；
4.参加采购活动前三年内，在经营活动中没有重大违法记录 。
SRAM阵列高速测试板-需求公告
发布日期：2026-09-30
| 序号 | 物品名称 | 品牌/生产商 | 指标需求 | 计量单位 | 采购数量 | 交货周期 | 交货地点 | 备注 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | SRAM阵列高速测试板 | 1.硬件设计要求 ⚫覆盖 ANIS 所有准直束斑尺寸（不小于10cm*10cm）;⚫ SRAM 需满足： DUT 间距小于等于 1.5cm； DUT 对 SEL（单粒子锁定）、SEFI（单粒子功能中断）不敏感； 测试期间不能有 ECC 功能或者将ERR引脚按照数据位进行扩展； 器件对 SEU 敏感。SEU 截面约为 10^−13 cm^2/bit，以获得良好的灵敏度。在 10^6 neutrons/cm^2/s 的注量率下，翻转率约为 30-50/s，即使在低得多的通量下也可以很快获得良好的统计数据；⚫PCB设计层数不少于6层；⚫ 测试期间系统板需要完成 SRAM 数据读取并校验，并保存数据；⚫ 两种测试模式：动态测试和静态测试。动态测试频率大于等于 1/100ms；⚫ 通信接口：串口+串口服务器方案，波特率≥115,200bps（推荐921,600bps）⚫ 具备上电自检功能，上电后自动检测每颗芯片的基本读写功能，标记故障芯片并跳过。 2.软件设计要求：测试控制、实时监测（统计分布）、数据分析、数据管理、通信协议。 | 套 | 1 | 3个月 | CSNS_B7_BL11 |
欢迎广大供应商前来报价！