CG20260610010
2026-07-03 17:00
上海科技大学
| 序号 | 物品名称 | 品牌/生产商 | 指标需求 | 计量单位 | 采购数量 | 交货周期 | 备注 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 硅像素阵列探测器芯片加工 | 无 | 采购需求: 1、根据需求,完成像素阵列探测器芯片的设计和加工,提供加工完成的芯片。整个加工分两轮完成,第一轮先提供少量样片,根据测试结果优化设计和工艺参数,第二轮提供全部芯片。 2、交付时需提供针对关键技术指标的测试结果。 3、竞价厂家需完成第一轮样片芯片和后端读出ASIC芯片的倒装焊接,以便测试。ASIC芯片由采购方提供。 具体技术指标如下: (1)交付的传感器晶粒(DIE)数量:≥120片 (2)传感器类型:N型FZ高阻硅,电阻率≥10 kΩ·cm,p-i-n探测器 (3)传感器芯片平整度(划片后):≤20μm (4)像素阵列:512 x 448 (5)像素间距:55μm x 55μm (6)钝化层开孔直径:16μm (7)晶粒(DIE)尺寸:29.96mm x 24.7mm (8)全耗尽电压:≤100V (9)击穿电压:≥500V (10)工作电压:≥200V (11)入射窗厚度:≤3μm (12)CCR漏电流(200V偏压、辐照前):≤100nA (13)像素间电容(通过测试结构表征):≤500fF | 片 | 120 | 6个月 |